使用臺階儀或其他萬(wàn)分尺長(cháng)度量測儀器，單層能到到準確的數值，操做簡(jiǎn)單，多層不能直接測量，要做出相對厚度，有臺階的樣品或其他才可以測量。

  使用我們反射式膜厚測試，直接根據材料特性（單層/多層）設置好菜單，通過(guò)標準硅片校準后，直接一鍵量測，直接測量出單層/多層膜厚，不會(huì )對產(chǎn)品造成損傷，可以離線(xiàn)也可以在線(xiàn)量測。測量多層膜厚基本上不需要單獨制樣，只是在解析某一膜層折射率（材料庫無(wú)信息）時(shí)有初次制樣需求。

  反射式膜厚測量?jì)x可用于測量：半導體鍍膜，手機觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場(chǎng)合。可測量：2nm到3000μm的膜厚，測量精度達到0.1nm。 在折射率未知的情況下，還可用于同時(shí)對折射率和膜厚進(jìn)行測量。此外，設備也可用于準確測量樣品的顏色和反射率。樣品光斑在1mm以?xún)取?/span>
  進(jìn)行測量簡(jiǎn)單可靠，實(shí)際測量采樣時(shí)間低于1秒。

  配合我們的專(zhuān)*軟件進(jìn)行手動(dòng)測量，每次測量時(shí)間低于5秒。軟件支持50層膜以?xún)鹊哪Ｐ筒⒖蓪Χ鄬幽ず駞颠M(jìn)行測量。我們軟件擁有近千種材料的材料數據庫，同時(shí)支持函數型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光學(xué)（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型（Maxwell Garnett, Bruggeman）EMA 等折射率模型。

  同時(shí)，客戶(hù)還可以通過(guò)軟件自帶數據庫對材料，菜單進(jìn)行管理并回溯檢查測量結果。